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LOGIC IC-TESTSYSTEM
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* 70/140 MHZ TEST PREIS * 144 MHZ Double Speed TEST BY 3 EDGE EVENT MODE OHNE DECREASE TEST PIN * 512 I / O-Kanäle * 16M PATTERN MEMORY * Flexible Ressourcen pro Pin ARCHITEKTUR * 2 TEST Köpfe pro S
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Modell 3203 Memory Tester Modell
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Full SDRAM Arbeitsgeschwindigkeit test () Open & kurzen Test für die Adresse / data / control line () AC parametrischen Test als Timings und Muster () DC-parametrische Tests zum Auslaufen oder ICC (
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Schaltungsart RECTIFIER
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* Selbstdiagnose-unrichtige Funktionieren * NATURAL Konvektionskühlung DESIGN * Kompaktes Design, VIER für Standard 19``RACK WIIDTH * LCD-und LED Operation Status-und Warnmeldungen DISPLAY
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SWITCHING POWER SUPPLY ATS
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* OFFENE ARCHITEKTUR SOFTWAREPLATTFORM * Unterstützung jedes Instrument MIT GPIB/RS-232/RS-485/I2C INTERFACE * Test Command Optimierer hilft ZUR VERBESSERUNG DER TEST SPEED * GEEIGNET Codierung für
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6U/3U CompactPCI-Plattform
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6HE-CompactPCI-Plattform: () (1) 19``Rack-Mount für 6U CompactPCI-System () (2) Removiabel Lüfter und Filter. () (3) Flexible 3 und 6HE-Kombination mit Front-und Rear I / Os () (4) Umfassende EMCX
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